X射線衍射儀（XRD）是用于分析各種問題的重要的非破壞性工具之一，從流體到粉末和晶體。從研究到生產(chǎn)和工程，XRD在材料特點分析和質量控制中是一個*的方法。理學公司與學術界用戶、工業(yè)用戶合作開發(fā)了一系列衍射儀，提供了技術先進、靈活性強且性價比高的衍射解決方法。
　　
　　X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質的晶體結構，織構及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領域。X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似。X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質內(nèi)部微觀結構的一種大型分析儀器，X射線衍射儀廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業(yè)。X射線衍射儀（X-RayDiffractometer，XRD）是目前應用廣泛的研究晶體結構的裝置。X射線衍射儀可分為X射線單晶衍射儀和X射線多晶衍射儀。
　　
　　X射線衍射儀技術可為客戶解決的問題：
　　
　　（1）當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
　　
　　（2）很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
　　
　　（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標。
　　
　　（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力。
　　
　　（5）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法可以測定納米粒子的平均粒徑。